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ZNSP25.4-1IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X1.0mm（晶體/棱鏡
CO2激光光譜分析儀
HB-C0BFAS0832x4 QPSK C波段相干混頻器（信號(hào)解調(diào)/鎖相放大器等）
Frequad-W-CW DUV 單頻連續(xù)激光器 213nm 10mW Frequad-W
THL-ZnTe20-500RZNTE（碲化鋅）太赫茲晶體
ER40-6/125截止波長(zhǎng)1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
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高能激光光譜光束組合的光柵 （色散勻化片）
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
NANOFIBER-400-9-SA干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
FLEX-BF裸光纖研磨機(jī)
S+C+L波段 160nm可調(diào)諧帶通濾波器
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產(chǎn)品中心光學(xué)測(cè)量?jī)x器
product
產(chǎn)品分類
超寬中紅外光束質(zhì)量分析儀(帶M2測(cè)試，光敏面：10.8×8.7mm) 產(chǎn)品描述： 筱曉光子的紅外光束質(zhì)量分析儀，可以實(shí)現(xiàn)1.2-15μm范圍內(nèi)的光斑探測(cè)和參數(shù)分析，空間分析精度可達(dá)10μm量級(jí)，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點(diǎn)。
更新時(shí)間：2024-12-09
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：737
BladeCam2-HR CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²
更新時(shí)間：2024-12-09產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：733
FS70-TH 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)（觀察儀） 應(yīng)用： 切割、修整、校正、 給半導(dǎo)體電路做標(biāo)記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(fù)(校正錯(cuò)誤)。 還可用作光學(xué)觀察剖面圖以便探針?lè)治霭雽?dǎo)體故障。 ? 可用于紅外光學(xué)系統(tǒng)*。
更新時(shí)間：2024-12-09產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：717
CUBE-ER100偏振消光比測(cè)試儀 總覽 CUBE-ER100是一款基于旋轉(zhuǎn)偏振器的偏振消光比（PER）測(cè)量?jī)x，適用于光纖和自由空間光學(xué)應(yīng)用。由于其緊湊的尺寸和高達(dá)每秒50點(diǎn)的快速測(cè)量速度，它可以很容易地集成到保偏光纖自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)中。
更新時(shí)間：2024-12-09產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：756
FS70Z-TH 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀） 應(yīng)用： 切割、修整、校正、 給半導(dǎo)體電路做標(biāo)記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(fù)(校正錯(cuò)誤)。 還可用作光學(xué)觀察剖面圖以便探針?lè)治霭雽?dǎo)體故障。 ? 可用于紅外光學(xué)系統(tǒng)*。
更新時(shí)間：2024-12-09產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：702