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產(chǎn)品中心
光纖/光纖器件/光纖處理
光纖研磨拋光/切割剝離器
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產(chǎn)品分類Cila 2.0 裸光纖拋光和檢測系統(tǒng) (光纖研磨拋光) Bare Fiber Polishing and Inspection, Cila 2.0裸光纖拋光和檢測系統(tǒng)可以有效地獲取、對齊、定位和拋光大量形狀奇特的裸光纖。內(nèi)置檢測系統(tǒng),提供高分辨率成像和參考,使其在對公差要求高的應用方面有突出表現(xiàn),如在拋光角度、徑向?qū)?PM光纖)和精確光纖突出長度等方面。
光學波導拋光和檢測系統(tǒng)(光纖研磨拋光) Optical Waveguide Polishing and Inspection Cila 2.0光學波導,光纖陣列V型槽拋光和檢測系統(tǒng)可以拋光和檢測多種類型的光波導、多光纖陣列V型槽,以及需要共面、平面、傾斜或多面端面的類似組件。該系統(tǒng)配備了一個剖面圖,高分辨率攝像機,允許用戶監(jiān)控拋光過程,進行余量去除和角度驗證。具有精確定位能力的明視場
ProView™ XD 光纖端面質(zhì)量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200um)(光纖研磨拋光/切割剝離器) ProView XD是一款高度先進的干涉儀,用于精確測量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產(chǎn)線設計的,在生產(chǎn)線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView XD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護目的。
ProView™ LD 光纖端面質(zhì)量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑125-720um)(光纖研磨拋光/切割剝離器) ProView LD是一款高度先進的干涉儀,用于精確測量和檢查直徑為125至720µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產(chǎn)線設計的,在生產(chǎn)線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView LD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護目的。
ProView™ XD 光纖端面質(zhì)量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于光纖支架 光纖包層直徑220-1200um)(光纖研磨拋光/切割剝離器) ProView XD是一款高度先進的干涉儀,用于精確測量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產(chǎn)線設計的,在生產(chǎn)線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView XD也非常適合研發(fā)環(huán)境和光纖切割機維護目的。