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產品分類FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡(顯微OCT掃頻測振) 特點 采用Mitutoyo遠場校正鏡頭 三端輸出設計可輕松接收視頻 轉盤可接最多四個物鏡
基于激光GHz聲波振動觀測系統(tǒng) 500MHz~6GHz(顯微OCT掃頻測振/磁光克) 基于激光的觀測系統(tǒng),專門設計用于顯示基于電介質/壓電的高頻設備的表面聲波 surface acoustic wave(SAW)和體聲波 Bulk Acoustic Wave(BAW),如SAW濾波器(Interdigital Transducer 叉指換能器 IDT)和薄膜體聲波諧振器(FBAR)
用于晶圓的縱向克爾效應量測系統(tǒng) BH-618SK(顯微OCT掃頻測振/磁光克) 用于8英寸或12英寸晶圓的硬盤磁頭和磁傳感器目標映射測量的非接觸式評估系統(tǒng)。
用于晶圓的極向克爾效應測量系統(tǒng) BH-810CPC25(顯微OCT掃頻測振/磁光克) 用于磁性半導體的 8 英寸或 12 英寸晶圓目標映射測量的非接觸式評估系統(tǒng)。
垂直磁各向異性評價系統(tǒng) BH-R810( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 產品總覽 在固定磁場方向下具有旋轉樣品架的角度依賴性分析系統(tǒng)。